集成電路在研制、生產和使用過程中失效不可避免,隨著人們對芯片產品質量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片檢測顯微鏡對集成電路失效分析,可以幫助集成電路設計人員找到設計上的缺陷、工藝參數的不匹配或設計與操作中的不當等問題。
芯片檢測顯微鏡可以幫助我們在IC封裝中的各種缺陷如層剝離、爆裂、空洞以及打線的完整性,PCB制程中可能存在的缺陷如對齊不良或橋接,開路、短路或不正常連接的缺陷,封裝中的錫球完整性。
芯片檢測圖
CMY-50Z科研級倒置數碼金相顯微鏡
DYJ-909科研型倒置金相顯微鏡
束線端子截面檢測儀DY-1000
TFT-LCD液晶檢查DIC顯微鏡DYJ-6R
TFT-LCD液晶檢查DIC顯微鏡DYJ-6R
4008920720
傳真:021-58986009
地址:上海市浦東新區繡川路561號